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1、用超聲波測厚儀時，底波消失可能是什么原因造成的?

答：(1)近表表大缺陷;(2)吸收性缺陷;(3)傾斜大缺陷;(4)氧化皮與鋼板結(jié)合不好。

2、簡述超聲波測厚儀中，超聲波測厚儀在介質(zhì)中傳播時引起衰減的原因是什么?

答：(1)超聲波的擴(kuò)散傳播距離增加，波束截面愈來愈大，單位面積上的能量減少。

(2)材質(zhì)衰減一是介質(zhì)粘滯性引起的吸收;二是介質(zhì)界面雜亂反射引起的散射。

3、超聲波測厚儀使用中，晶片表面和被探工件表面之間使用耦合劑的原因是什么?

答：晶片表面和被檢工件表面之間的空氣間隙，會使超聲波完全反射，造成探傷結(jié)果不準(zhǔn)確和無法探傷。

4. 超聲波測厚儀顯示方式可分幾種?

答：(1)A型顯示示波屏橫座標(biāo)代表超聲波傳遞播時間(或距離)縱座標(biāo)代表反射回波的高度;

(2)B型顯示示波屏橫座標(biāo)代表超聲波傳遞播時間(或距離)，這類顯示得到的是探頭掃查深度方向的斷面圖;

(3)C型顯示儀器示波屏代表被檢工件的投影面，這種顯示能繪出缺陷的水平投影位置，但不能給出缺陷的埋藏深度。

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