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膜厚儀廠家:使用涂層測厚儀可以測哪些材料?
專欄:技術(shù)問答
發(fā)布日期:2018-11-10
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涂層測厚儀的覆層厚度的測量辦法首要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。
涂層測厚儀有單用,也有二用的,用涂層測厚儀測鐵和鋁都是沒有問題的,這個(gè)都是由涂層測厚儀探頭決定的。你的基體是鐵和鋁,但不知道你的涂層是什么材料,這也是選涂層測厚儀的一項(xiàng)重要指標(biāo)
涂層測厚儀:對材料表面維護(hù)、裝修構(gòu)成的覆蓋層,如涂層、鍍層、貼層、化學(xué)生成膜等,在有關(guān)國家和國際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、外表工程質(zhì)量檢查的重要一環(huán),是商品到達(dá)優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手法。為使商品國際化,中國出口商品和涉外項(xiàng)目中,對覆層厚度有了清晰的要求。
涂層測厚儀的覆層厚度的測量辦法首要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些辦法中前五種是有損檢查,測量手法繁瑣,速度慢,多適用于抽樣查驗(yàn)。
但是X射線和β射線法是無觸摸無損測量,但設(shè)備雜亂貴重,測量規(guī)模較小。因有放射源,使用者有必要恪守射線防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適宜鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)選用。
隨著技能的日益前進(jìn),特別是這些年引進(jìn)微機(jī)技能后,選用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米,精度可到達(dá)1%,有了大幅度的進(jìn)步。它適用規(guī)模廣,量程寬、操作簡潔且價(jià)廉,是工業(yè)和科研使用最廣泛的涂層測厚儀器;選用無損辦法既不損壞覆層也不損壞基材,檢查速度快,能使很多的檢查作業(yè)經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。
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